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测试针,用于测试PCBA的一种探针。

表面镀金,内部有平均寿命3万~10万次的高性能弹簧。

国外比较有名的生产厂家有:QA,IDI、UC、Semiprobe、ECT,INGUN,BT

探针的材质:W,ReW,CU、A+

1、主要采用的材质为W,ReW,弹性一般,容易偏移,粘金屑,需要多次的清洗,磨损损针长,寿命一般。

2、A+材质的免清针,这种材质弹性较好,测试中不容易偏移,并且不粘金屑,免清洗,因此寿命较长。

探针分类

探针根据电子测试用途可分为:A、光电路板测试探针:未安装元器件前的电路板测试和只开路、短路检测探针,国内大部分的探针产品均可替代进口产品;

B、在线测试探针:PCB线路板安装元器件后的检测探针;高端产品的核心技术还是掌握在国外公司手中,国内部分探针产品已研发成功,可替代进口探针产品;

C、微电子测试探针:即晶圆测试或芯片IC检测探针,核心技术还是掌握在国外公司手中,国内生产厂商积极参与研发,但只有一小部分成功生产。

探针主要类型:悬臂探针和垂直探针。

悬臂探针:劈刀型(BladeType)和环氧树脂型(EpoxyType)

垂直探针:垂直型(VerticalType)

1、ICT探针 (ICTseriesProbes)

一般直径在2.54mm-1.27mm之间,有业内的标准称呼100mil,75mil,50mil,还有更特别的直径只有0.19mm,主要用于在线电路测试和功能测试.也称ICT测试和FCT测试。也是目应用较多的一种探针。

2、界面探针(InterfaceProbes)

非标准的探针,一般是为少数做大型测试机台的客户定做的,例如泰瑞达(Teradyne)和安捷伦(Agilent)。用于测试机台与测试夹具的接触点和面。

3、微型探针(MicroSeriesProbes)

两个测试点中心间距一般为0.25mm至0.76mm。

4、开关探针(SwitchProbes)

开关探针单独一支探针有两路电流。

5、高频探针(CoaxialProbes)

用于测试高频信号,有带屏蔽圈的可测试10GHz以内的和500MHz不带屏蔽圈的。

6、旋转探针(RotatorProbes)

弹力一般不高,因为其穿透性本来就很强,一般用于OSP处理过的PCBA测试。

7、高电流探针(HighCurrentProbes)

探针直径在2.54mm-4.75mm之间.最大的测试电流可达39amps。

8、半导体探针(SemiconductorProbes)

直径一般在0.50mm-1.27mm之间。带宽大于10GHz,50Ωcharacteristic

9、电池接触探针(BatteryandConnectorContacts)

一般用于优化接触效果,稳定性好和寿命长。

10、汽车线束测试测试探针

专业用于汽车线束通断检测,直径在1.0--3.5mm之间,电流在3----50A。

除以上类型外还有温度探针,Kelvin探针等,比较少用。

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